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光柵同軸線光源應用案例
2021-06-29
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光柵同軸線光源應用案例



 原理:   

使用新型光學元件,配合同軸線光源可對光滑表面進行凹凸檢測。光源上配有光柵元件,當檢測到凹凸點時,條紋的成像就會發生變形,此變形的位置即為凹凸點的位置。


 產品特點:   

★透光性高, 均勻性好
★設計配合同軸線光
★特殊光學設計,成像效果良好


 行業應用:   
★光滑表面凹凸、劃傷、黑點等缺陷檢測


 應用案例:   

1.反光膜曲面、凹凸點檢測

樣品圖1

效果圖1


2.手機偏光膜曲面、凹凸點檢測

樣品圖2


效果圖2


說明:對于光滑表面的凹凸點,通過判斷條紋的彎曲很容易找出缺陷位置,放大缺陷。線陣檢測面積大,可根據樣品的大小選擇相對大的光源來滿足視野的,均勻性相對面陣更有優勢。


3.偏光膜輕微劃傷等缺陷檢測

樣品圖3

效果圖3


說明:對于光滑表面的輕微劃傷點,常規的光源檢測很難看到缺陷,通過光柵同軸光源后,缺陷部分呈現出柵格雜亂,凸顯出缺陷,有利于機器視覺識別。


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